結論
超音波塗層厚度測量適用於非金屬基材（混凝土、木材、塑膠），透過測量聲波穿過塗層的回波時間來測厚；X 射線螢光（XRF）則藉由分析螢光發射，測量金屬基材上的薄金屬塗層。兩者針對不同的應用，鮮少重疊。
各自如何運作
超音波
高頻聲波脈衝穿過塗層，在基材介面反射後返回探頭，測厚儀利用塗層的聲速將回波時間換算為厚度。定義於 ASTM D6132。
X 射線螢光（XRF）
X 射線束激發塗層中的原子，使其發出特徵螢光輻射；螢光訊號的強度與塗層厚度相關。定義於 ASTM B568。
比較
| 項目 | 超音波 | X射線螢光光譜 |
|---|---|---|
| 基材 | 非金屬（混凝土、木材、塑膠、FRP） | 金屬（鋼、鋁、銅） |
| 塗層 | 任何有機塗層（油漆、環氧樹脂、聚氨酯） | 金屬塗層（鋅、鎳、鉻、錫） |
| 量程 | 18 μm – 15 mm | 0.01 μm – 50 μm（典型值） |
| 精度 | ±(1% + 1 μm) | ±(5% + 0.1 μm) |
| 輻射安全 | 無須防護 | 需 X 射線屏蔽 |
| 便攜性 | 完全便攜 | 桌上型，或含安全外罩的便攜式 |
| 成本 | $200–$3000 | $5,000–$50,000+ |
常見的誤解
- 「XRF 總是更準確」——XRF 擅長量測極薄的金屬塗層，但對於非金屬基材上的有機塗層，超音波是唯一可行的選擇。