簡要答案: 先核對量測依據,再判定塗層。有效檢驗需要適用方法、已核驗儀器、受控接觸、約定取樣與可追溯紀錄。核對未通過時,保留讀值及其狀態,調查原因,再依有紀錄的程序重測。把不可靠數據平均,不能證明數據有效。
何時使用這份清單?
第一個區域量測前、更換探頭或設定後,以及讀值不合理時都應核對。清單用於配合儀器手冊與工程程序。應保存實際核驗結果;習慣性勾選並不能證明系統正常。
量測程序與驗收規則分開核對
ASTM D7091 說明其適用方法的量測、校正、核驗及調整;工程規範才決定驗收界限與取樣。儀器量程與準確度不是塗層合格界限。應先選定適用文件,再決定讀值數量。
檢查未通過時怎麼處理?
標記受影響區域並保留原數據。檢查參照和接觸條件,記錄調整,再於同一可辨識位置重測。方法不適用或幾何條件超限時,尋找經驗證的替代方法。報告應連結原值與重測值,讓審閱者可重建判斷過程。
| # | 檢查項目 | 接受結果前應採取的行動 |
|---|---|---|
| 1 | 基材與模式 | 辨識實際基材,以代表性樣品核驗方法;自動選模式只是起點。 |
| 2 | 塗層性質 | 確認方法要求的非磁性或非導電條件,辨識多層系統。 |
| 3 | 塗層狀態 | 確認表面可接觸、固化狀態符合檢驗程序。 |
| 4 | 儀器與探頭限制 | 核對預期厚度及探頭限制;超量程訊息不能當成合格測量。 |
| 5 | 參照核驗 | 使用建議參照,依文件允差比較,保存參照識別與結果。 |
| 6 | 代表性基材設定 | 依程序處理裸基材、粗糙度與允許的調整,不要自動調零消除應有修正。 |
| 7 | 曲面與邊緣 | 遵守曲率、最小面積與邊緣距離限制;特殊區域分別驗證。 |
| 8 | 接觸與重複性 | 保持垂直,每次接觸間抬起探頭;調查不穩定讀值,不挑有利數字。 |
| 9 | 取樣配置 | 採用指定測點、點群及區域規則,不把單一讀值數套用所有工程。 |
| 10 | 標準片與表面 | 標準片置於裸基材核驗時應清潔、平整、位置正確;其他用法需明確驗證程序。 |
| 11 | 設備追溯 | 記錄儀器及探頭識別、校正狀態與本次工作的核驗。 |
| 12 | 原始數據與判定 | 保存逐筆讀值、單位、位置、排除原因、計算及所引用驗收規則。 |