Kết luận
Đo độ dày lớp phủ bằng siêu âm hoạt động trên các chất nền phi kim loại (bê tông, gỗ, nhựa) bằng cách đo thời gian phản hồi qua lớp phủ. Huỳnh quang tia X (XRF) đo lớp phủ kim loại mỏng trên nền kim loại bằng cách phân tích sự phát xạ huỳnh quang. Chúng nhắm tới các ứng dụng khác nhau và hiếm khi trùng nhau.
Cách thức hoạt động của mỗi cái
Siêu âm
Xung âm thanh tần số cao truyền qua lớp phủ, phản xạ khỏi bề mặt nền và quay trở lại đầu dò. Máy đo chuyển đổi thời gian dội âm thành độ dày bằng cách sử dụng vận tốc âm thanh của lớp phủ. Được xác định trong ASTM D6132.
Huỳnh quang tia X (XRF)
Chùm tia X kích thích các nguyên tử trong lớp phủ, phát ra bức xạ huỳnh quang đặc trưng. Cường độ tín hiệu huỳnh quang tương quan với độ dày lớp phủ. Được xác định trong ASTM B568.
So sánh
| Khía cạnh | Siêu âm | XRF |
|---|---|---|
| chất nền | Phi kim loại (bê tông, gỗ, nhựa, FRP) | Kim loại (thép, nhôm, đồng) |
| Lớp phủ | Bất kỳ lớp phủ hữu cơ nào (sơn, epoxy, urethane) | Lớp phủ kim loại (kẽm, niken, crom, thiếc) |
| Phạm vi | 18 μm – 15 mm | 0,01 μm – 50 μm (điển hình) |
| Độ chính xác | ±(1% + 1 μm) | ±(5% + 0.1 μm) |
| An toàn bức xạ | Không cần thiết | Cần che chắn tia X |
| Tính di động | Hoàn toàn di động | Để bàn hoặc di động có vỏ an toàn |
| Chi phí | $200-$3000 | $5,000-$50,000+ |
Quan niệm sai lầm phổ biến
- "XRF luôn chính xác hơn" – XRF vượt trội ở các lớp phủ kim loại rất mỏng, nhưng đối với lớp phủ hữu cơ trên nền phi kim loại, siêu âm là lựa chọn khả thi duy nhất.